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DS发射率测量仪技术说明【测量值的测量方法】

发光计型号AE – 用于自动曝光测量的滑动方法：

如果需要对原位材料、无法放置在散热器上的大样品或导热系数低的材料进行发射测量，如果表面温度与校准标准温度不同，则可能会出现误差。有必要确保表面温度与校准标准相同，或计算校正后的读数。

本文描述了纠正所指示的发射值的两种技术方法。 这里描述了第三种方法，它避免了计算校正的需要。它需要更大的表面面积，允许达到室温，就像标准一样。

首先，仪器在低发射率和高发射率标准上进行校准。然后将检测器放在要测量的样品上，并允许大约一分钟，使检测器读数达到接近稳定的值。在此期间，预计表面将直接在探测器下方加热，因此发射读数将低于应有的水平。然后，探测器应该在表面上滑动几英寸到不同的点，而不会中断与表面的接触。这将让探测器测量到已处于正确温度的样品区域，因此发射读数应该增加少量，并且将更接近正确的值，因为表面在探测器下方加热的时间更少。这个过程可以重复几次，每次移动到以前没有测量过的地方，并且该值应该接近稳定的读数。

 测量值的测量方法有很多，稳定不稳定，准确不准确的话，就看测量的方法是否正确，如果您也有这方面的相关问题，欢迎大家一起来和上海明策的技术工程师们一起探讨，更多详细内容请大家继续关注我们吧！